Como utilizar um multímetro para testar os componentes da máquina de controlo da temperatura de teste de chips?
O controlador de temperatura de teste de chip é utilizado para IC, CPU, GPU, DPU, BGA, FCBGA, LGA, QFN, QFP, CSP, WLCSP, Bare Die e outros dispositivos sob teste. Então, como utilizar um multímetro para estes componentes de uso comum E quanto aos testes?
Para componentes electrónicos, como transformadores, bobinas de deflexão, indutores de compensação, etc., uma vez que a resistência dos componentes indutivos enrolados pelo fio é muito baixa, é difícil detetar falhas de curto-circuito; as falhas de circuito aberto dependem da resistência das duas extremidades do componente de teste Deve ser maior do que o seu valor normal (é necessário conhecer antecipadamente o seu valor de resistência ou encontrar um componente do mesmo modelo e compará-lo após o teste). O teste da resistência direta e inversa deve estar em conformidade com a regra da junção PN, e o valor do multímetro deve ser baixo (R×10 ou R×100). Quando o díodo é ligado em paralelo com o condensador, devido ao efeito de carga e descarga do condensador, o teste precisa de esperar um pouco até que o valor da resistência seja estável. Pode ser julgado corretamente mais tarde; mas quando o díodo é ligado em paralelo com a bobina de indutância, porque o valor da resistência da bobina de indutância é muito pequeno, isto é inválido no ensaio de estrada.
A resistência positiva e negativa entre os pólos e-b ou b-c dos componentes electrónicos do transístor de teste deve ainda cumprir a lei de teste da junção PN, e a diferença entre os valores de resistência positiva e negativa entre e-c deve ser menor. Utilizar o equipamento R×100 ou R×1K para medir o tubo de alta potência. Deve notar-se que a condição do transístor no circuito é mais complicada, e só se pode ver quando a junção PN se rompe ou abre o circuito. Quando a resistência do componente paralelo entre os dois pólos é demasiado baixa, a deteção de um pólo tem de ser desligada para ser eficaz.
O resultado do teste da resistência dos componentes electrónicos deve ser inferior ou igual ao valor nominal da resistência (ver o aspeto da resistência ou a marca no diagrama esquemático). Se for superior ao valor nominal, a resistência está danificada. Se se tratar de um potenciómetro ou de uma resistência semi-ajustável, pode utilizar um multímetro para ligar uma extremidade do potenciómetro a um ponto qualquer e a outra extremidade a um ponto qualquer. Rode o eixo. A resistência deve mudar, e a resistência medida deve ser menor ou igual à resistência nominal.
Se não existirem componentes de curto-circuito nas duas extremidades do condensador (tais como bobinas de indutância, etc.), a resistência das duas extremidades deve ser superior a zero e deve haver carga e descarga quando se mede um condensador de maior capacidade, caso contrário o condensador está avariado ou falhou.
A qualidade dos componentes pode ser avaliada através da utilização de um multímetro para testes, o que pode aumentar a velocidade de manutenção dos componentes e é também propício ao funcionamento eficaz do dispositivo de controlo da temperatura de teste de chips no trabalho de teste.
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