Полупроводниковый чип Chiller - это симулятор температурных испытаний, используемый при тестировании полупроводников. Как профессиональный производитель, LNEYA имеет широкую температурную ориентацию и высокую температуру подъема и спада, а диапазон температур составляет -92 ° C ~ 250 ° C. Он подходит для различных требований тестирования. Требования к точному температурному контролю компонентов.

Полупроводниковый чип Chiller - это высокотемпературная среда, которая широко используется для определения адаптивности электрических и электронных продуктов к высоко- и низкотемпературным средам (особенно изменения электрических и механических свойств продуктов). При исследовании и разработке оборудования для испытания на адаптивность к окружающей среде компания LNEYA следует объективным законам и разрабатывает его в соответствии со строгими стандартами. Таким образом, обеспечивается точность, надежность и практичность оборудования.

Выделенный тестер нагрева-холода для микросхем IC обеспечивает точную и быструю температуру окружающей среды для тестируемых микросхем, модулей, интегральных плат и электронных компонентов. Приборы и оборудование, незаменимые для тестирования электрических характеристик, анализа отказов и оценки надежности. Широко используется в полупроводниковых компаниях, аэрокосмической промышленности, оптической связи, университетах, научно-исследовательских институтах и других областях. Охладитель полупроводниковых микросхем При производстве полупроводниковых электронных компонентов для жестких условий эксплуатации, на этапах сборки упаковки ИС и инженерно-производственных испытаний проводятся электронные тепловые испытания при комнатной температуре (от -85 °С до + 250 °С) и другие симуляции испытаний в условиях окружающей среды.

Специализированная испытательная машина для охлаждения и нагрева ИС микросхем часто используется в приложениях, требующих быстрого повышения/понижения температуры; для одной ИС (модуля) из множества компонентов на печатной плате она изолируется и отдельно подвергается воздействию высоких и низких температур, не затрагивая другие периферийные устройства. Устройство; температурные циклы/удары по ИС на платформе тестера; традиционные термостаты недоступны для этого типа испытаний. Обеспечивает точное и быстрое измерение температуры окружающей среды для всей платы интегральной схемы.

В условиях низкой температуры, высокой температуры, высокой температуры и высокой влажности, а также циклических изменений, проводится тест на моделирование физических и других связанных с продуктом характеристик. После испытания оценивается работоспособность продукта, и определяется, может ли он по-прежнему соответствовать заранее установленным требованиям к продукту. Дизайн, совершенствование, идентификация и заводская проверка.

Чип IC посвященный тестер охлаждения отопления в основном для адаптивного теста электронных продуктов, а также их оригинальных устройств, и других материалов в хранении, транспортировке и использовании при высокой температуре, низкой температуре и циклической среде, и стремиться к достижению точных результатов для клиентов. эффект.