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熱流機/光模組測試用冷水機

非接觸式熱流

AET 0℃~70℃

用於半導體和光模組測試。無需機械接觸即可實現精確、可重複的溫度控制。

非接觸式熱流（images 1）

它是如何運作的？

AET 光模組測試冷卻器利用可控的熱冷氣流，為被測設備 (DUT) 提供精確的溫度。

非接觸式氣流消除了物理壓力
快速升溫和穩定溫度
利用即時回饋訊號的閉環控制

熱流機/光模組測試用冷水機規格

模型	AET-50
溫度範圍	0℃～+70℃
溫度精度	±0.5℃
加熱與冷卻能力	配備可在高達 70℃ 高溫下運行的直接冷卻技術，滿足高溫運行期間快速冷卻目標設備的需求。
冷熱/冷凍能力	50W @0℃
控制面板	4.3 吋觸控螢幕
控制器	PLC（可程式邏輯控制器）透過 RS485 介面標配 Modbus RTU 協定支援，並可選擇支援其他通訊協定。
電源	單相 220V 50Hz
尺寸（毫米）	490255285
操作模式	直接/循環氣流
安全防護	配備過熱保護裝置，確保設備安全。

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為什麼選擇光模組測試用冷水機？

非接觸式測試：消除對裝置的機械壓力，使其成為易碎和高精度光學模組的理想選擇。
均勻溫度場：氣流完全包圍被測設備，確保溫度分佈一致，並降低溫度梯度。
無磨損，低維護：不像 TEC 系統那樣反覆進行物理接觸 → 無機械磨損 → 使用壽命較長。
高階溫度控制（Tc 和 Tj）：支援帶有外部回饋的外殼溫度 (Tc) 和結溫 (Tj) 控制。

與工程師交談

非接觸式熱流（images 8）

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非接觸式熱流的應用

光模組測試：專為 400G / 800G 光收發器和高速通訊模組設計。
半導體ATE測試：為IC功能和性能測試提供穩定的熱條件。
可靠性和熱循環測試：支援高/低溫循環和長時間老化測試。
精密電子元件：適用於 BGA、SiP 和其他敏感半導體封裝。

請求應用解決方案

全氣體溫控系統冷水機組型號

非接觸式熱流（images 9）

LQ -110℃~-40℃
氣體冷卻系統

氣體流量：15m³/h~100m³/h；
斷路器：10A~25A；
最低溫度：-40℃/-75℃/-110℃

非接觸式熱流（images 10）

AES -120℃~225℃
溫度控制測試系統Temperature Forcing System

溫度精度±0.1℃；
空氣處理量10m³/h-30m³/h；壓力5bar-7.6bar；
加熱與冷卻速率＜10s

非接觸式熱流（images 11）

AET -75℃~250℃
熱測試系統

溫度範圍：燃氣出口±0.1℃，遠程過程±0.5℃；
空氣處理量：22m³/h~95m³/h；
加熱和冷卻速率＜10秒

非接觸式熱流（images 12）

AI -105℃~125℃
氣流溫控系統

製熱量 3.5kW
冷氣量 1kW~3.5kW
溫度精度 ±0.05℃

非接觸式熱流（images 13）

DR series -7℃
工業氣體乾燥機

壓力範圍 0.65～1.0MPa
露點溫度 -70℃
氣體處理能力 425L/min～1750L/min

您可以信賴我們的光模組測試用冷水機工廠

我們是一家實力雄厚的冷水機組供應商，擁有自己的工廠，並在溫度控制領域擁有超過20年的經驗。

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全球服務

服務客戶超過3萬名。
產品出口到20多個國家。

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認證專利

已獲得CE認證、SGS認證、ISO認證。

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售後服務

提供全面的技術培訓，
並提供全天候服務。

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專業團隊

公司成立於2010年，擁有16年的產業經驗。
員工20%為技術人員。

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品質管制

外觀檢查。
性能測試。
電氣安全測試。

常問問題

是的，該系統可實現高精度控制，並將熱偏差降至最低。

是的，透過外部回饋訊號，支援閉環Tj控制。

該系統支援快速加熱和冷卻，並能實現穩定控制。

當然。它是專門為高靈敏度和高速光學設備設計的。

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